CITE (Computer Integrated Test Environment) ist die Softwareplattform für alle Digitaltest Testsysteme.

Die CITE Werkzeuge bieten eine Vielfalt an Schlüsselfunktionen bei der Vorbereitung einer Leiterplatte für das Testen:

• Verwendung der vorhandenen Bauteiltestsammlung
• Erzeugung des Testprogramms
• Debuggen
• Übersetzung des Programms für die Produktion

Im Großen und Ganzen bietet CITE zahlreiche Werkzeuge, um den Prozess zu beschleunigen, die Testqualität zu gewährleisten und die Testzeit zu verkürzen.

CITE ist ein Echtzeitsystem, welches

• Sowohl analogen als auch digitalen In-Circuit Test
• Funktionstests
• Boundary Scan
• Einfache, benutzerfreundliche Debbug-Umgebung
• Flexible Programmiersprache
• Fehlerfreie und hohe Abdeckung beim Testen des Prüflings

liefert.

CITE bietet eine Visual Basic basierte Umgebung oder als GenFast Komponente eine tabellenbezogene Umgebung für ein einfaches und schnelles Debuggen eines Testprogramms.

Unter anderem hat CITE folgende Eigenschaften:

• Unterstützung von Versionen und ECO, sowie Panels
• Serienreifes Testprogramm
• Analoge, digitale, komplexe Bauteilsammlung
• Automatische Testprogrammerzeugung
• Benutzerfreundliches Debugg-Fenster mit allen Lern- und Stabilitätsberechnungen
• Online-Vernetzung mit Board-Layout und Schaltplänen
• Integrierte Premium Unterstützung: Online Unterstützung direkt am Kunden-PC
• Makrotests für das Debuggen komplexer Bauteile, wie z.B. Transistoren
• Üppiges OpensCheck Lern/Test Werkzeug auf Paralleltestern sowie auf Condor Flying Probe
• Intelligente/Schnelle Flying Prober Kalibrierung
• Zeiteinsparung durch automatischen Detektor für „nicht verbundene Netze“
• Hochfrequenzmessung
• Zusätzliche Datenerfassung, die sämtliche Informationen über gerade durchgeführte Tests in einer .xml-Datei
• Rückruf-Funktion, welche eine direkte Reaktion auf eine gerade durchgeführte Messung ermöglicht
• Graphische Oberfläche PatEx zum Entwickeln und Debuggen digitaler Tests

GenFast

GenFast ist eine integrierte Umgebung für ein schnelles und flexibles Debuggen des Testprogramms sowohl auf Nadelbett-Testsystemen als auch auf Flying Probe Testsystemen. Es gibt durch eine benutzerfreundliche Multilevelansicht mit einem Blick eine komplette Sicht auf Testprogramme. Es befähigt Anwendern mit Elektronik-Erfahrung nur ein breit abgedecktes, stabiles Testprogramm zu erhalten.

GenFast baut auf den Grundstrukturen von CITE (etwa dem sog. Kernel) auf:

• Starke Debug-Funktionen; Inkrementelles Debuggen, Gesamter Prüfzustand ist für jeden Test sichtbar. Filterung vom Prüfzustand wie z.B. Pass, Fail, nicht getestet, Programmstop, Lesezeichen, Step In/Out und Durchführungsanzeige
• Leistungsstarke Editierfunktionen durch syntaxbezogene Filtermöglichkeiten erlauben schnelles Ändern von Parametern in beliebig zusammengestellten Befehlssequenzen
• Leistungsfähiger interaktiver Statistikreport  ermöglicht Erhöhung der Testabdeckung; Reduzierung der Testzeit durch Aufdecken redundanter Tests
• Übersichtliche Darstellung der Testparameter auf benutzerdefinierte Weise
• Dialoggesteuerter Testgenerator um auf Last-Minute-ECOs reagieren zu können; Erhöhung der Testabdeckung bei minimaler Konnektivität
• Integration von Barcode-Scannern sowie von Layoutanzeige oder Datenblättern